Pilot FX: Voller Nutzentest mit den Kosten eines Einzelplatinentests
(PresseBox) - Die neue Pilot4D FX Plattform revolutioniert den In-Circuit und Funktions-Nutzentest, überbrückt die Lücke zwischen Nadelbett- und Flying Probe Test.
Pilot4D FX ist der richtige Kompromiss in Bezug auf Produktivität und Flexibilität und ist speziell entwickelt für den Nutzentest. Dank seiner revolutionären mechanischen Architektur, optimiert und nutzt das System Testressourcen mehrfach, einschließlich spezieller, oft teuerer Instrumentierung.
Pilot4D FX steht nicht nur für Ressourcenoptimierung, oder Innovation (es gibt heute nichts Ähnliches am Markt) oder Automatisierung des Tests; es ist ein Durchbruch in der Testphilosophie.
Ein "flying" Nadelbett für Nutzen
Das Pilot4D FX System bietet die Möglichkeit, Testressourcen mehrfach zu nutzen, indem ein kleines, kostengünstiges Nadelbett von einer zur anderen Einzelplatine bewegt wird, effektiv wird dadurch die Notwendigkeit eliminiert, diese im System zu duplizieren.
Die mechanische Architektur des Systems erlaubt es dem Testkopf, welcher das Nadelbett trägt, zu rotieren, um alle denkbaren Konfigurationen von Nutzenlayout zu ermöglichen, die Pilot4D FX ist voll implementierbar in eine automatisierte Produktionslinie, macht sie so zu einem innovativen und effizienten Teil des Prozesses.
Das Pilot4D FX System umfasst alle Merkmale und Vorteile der Seica VIP Testplattform, inklusive der Hardware und Software Skalierbarkeit.
Traceability
Die Pilot4D FX verwendet eine State-of-the-Art Farbkamera, welche zusätzlich zur Passermarken-Zentrierung, in der Lage ist, die Seriennummer eines jeden einzelnen Boards auf dem Nutzen zu erfassen. Ein integrierter Marker ist verfügbar, um die getesteten Boards entsprechend der anwenderdefinierten Regeln zu markieren. Dank unserer umfangreichen Erfahrungen im High-Volume Produktionstest ist die VIVA Testsoftware in der Lage, mit externen Datenbanken zu kommunizieren und ermöglicht so eine volle Integration des Pilot4D FX Systems in die anwendereigene Produktionsmanagement -Umgebung.
Skalierbarkeit
Die Pilot4D FX hat ein 19'''' Rack für die Integration von externer Instrumentierung, stellt so die Skalierbarkeit für neue Applikationen sicher.
Die Integration von dedizierten OBP Programmiermodulen, Sensoren für LED Testapplikationen, Boundary Scan Test und Kommunikationsmanagement über Standardprotokolle (zum Beispiel: CAN BUS, LIN), sind nur einige der möglichen Eigenschaften die implementiert werden können.
Seica S.p.A, gegründet 1986, ist ein globaler Hersteller von automatischen Testsystemen und Selektiv- Lötanlagen, mit einer installierten Basis von mehr als 2000 Systemen, auf vier verschiedenen Kontinenten. Seica bietet komplett automatisierte, Laser basierende Selektivlötlösungen, genauso wie eine komplette Linie von Testlösungen, welche Nadelbett- und Flying Probe Tester umfassen; diese haben die Fähigkeit, eine Fertigungsdefektanalyse, In-Circuit Tests, Funktionstests und optische Tests an bestückten Baugruppen durchzuführen, ebenso an "Second and Third Level Electronic Modules" und unbestückten Leiterplatten. Der Seica S.p.A Corporate Hauptsitz ist in Italien, mit Büros in Frankreich, Deutschland, USA, und China, zusammen mit einem weltweiten Distributoren-Netzwerk.
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Seica S.p.A, gegründet 1986, ist ein globaler Hersteller von automatischen Testsystemen und Selektiv- Lötanlagen, mit einer installierten Basis von mehr als 2000 Systemen, auf vier verschiedenen Kontinenten. Seica bietet komplett automatisierte, Laser basierende Selektivlötlösungen, genauso wie eine komplette Linie von Testlösungen, welche Nadelbett- und Flying Probe Tester umfassen; diese haben die Fähigkeit, eine Fertigungsdefektanalyse, In-Circuit Tests, Funktionstests und optische Tests an bestückten Baugruppen durchzuführen, ebenso an "Second and Third Level Electronic Modules" und unbestückten Leiterplatten. Der Seica S.p.A Corporate Hauptsitz ist in Italien, mit Büros in Frankreich, Deutschland, USA, und China, zusammen mit einem weltweiten Distributoren-Netzwerk.
Datum: 01.12.2014 - 08:29 Uhr
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